ISO 20860-2
回损 / 驻波 / 插损 / 阻抗 / 屏蔽
面向 FAKRA 射频连接器与线束的插损、回损、阻抗、屏蔽与信号完整性验证，按 ISO 20860-2、USCAR-17、USCAR-2 出具逐件 S2P 与测试报告，不凭外观判定合格。
覆盖射频性能、屏蔽、信号完整性与环境可靠性的全链路验证。
矢量网络分析仪（VNA）插损、回损、阻抗与 S2P 数据导出能力。
时域反射（TDR）阻抗分布与故障定位能力。
屏蔽效能（SE）与转移阻抗的耦合路径测试能力。
依据 USCAR-17 的信号完整性与无源互调（PIM）验证能力。
振动、温循、湿热、盐雾等环境应力下的可靠性验证能力。
IP67/IP69K 密封等级与插拔耐久、CPA 保持力验证能力。
从出厂全检到出口证据包，关键词即能力边界。
以标准条款为判据，逐件留痕，不凭外观放行。
逐件 S2P 与回损判定，批量化留痕，不合格不流出。
按图纸与标准复测，给出可比对的一致性与偏差报告。
路试前建立射频性能基线，便于回归比对与失效归因。
在高压与大电流共存的强干扰场景下验证串扰与屏蔽裕量。
不同供应商同规格件交叉测试，确认可替代的射频与可靠边界。
汇总标准符合性、批次报告与追溯链，形成出口证据包。
FAKRA 选型视角：以标准判据给出可验证区间与处置边界，逐件留痕不凭外观放行。
FAKRA 选型视角：以标准判据给出可验证区间与处置边界，逐件留痕不凭外观放行。
FAKRA 选型视角：以标准判据给出可验证区间与处置边界，逐件留痕不凭外观放行。
FAKRA 原理视角：以标准判据给出可验证区间与处置边界，逐件留痕不凭外观放行。
FAKRA 原理视角：以标准判据给出可验证区间与处置边界，逐件留痕不凭外观放行。
FAKRA 原理视角：以标准判据给出可验证区间与处置边界，逐件留痕不凭外观放行。
便携式 VNA 现场复测仪：覆盖 VNA 射频测试 场景的 FAKRA 测试与验证，按标准逐件留痕，不凭外观判定合格。
VNA 插损回损阻抗测试台：覆盖 VNA 射频测试 场景的 FAKRA 测试与验证，按标准逐件留痕，不凭外观判定合格。
多端口 FAKRA S 参数系统：覆盖 VNA 射频测试 场景的 FAKRA 测试与验证，按标准逐件留痕，不凭外观判定合格。
时域故障定位仪：覆盖 TDR 阻抗测试 场景的 FAKRA 测试与验证，按标准逐件留痕，不凭外观判定合格。
高频 TDR 阻抗台：覆盖 TDR 阻抗测试 场景的 FAKRA 测试与验证，按标准逐件留痕，不凭外观判定合格。
TDR 阻抗分布测试仪：覆盖 TDR 阻抗测试 场景的 FAKRA 测试与验证，按标准逐件留痕，不凭外观判定合格。